테스트 포인트가 거의 또는 전혀 없는 테스트

SMART ICT

기존 테스트는 테스트 포인트 부족으로 인해 한계에 도달하는데, ProMik의 SMART ICT는 이 문제를 해결합니다.
테스트 기능이 애플리케이션에서 직접 실행되므로 마이크로컨트롤러/SoC에 대한 테스트 작업을 최소화할 수 있습니다.
고속 전송 속도는 바운더리 스캔에서도 프로그래밍과 테스트를 가속화합니다.
결과: 효율성 극대화, 비용 절감.

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테스트 절차에서 가장 비용 효율적인 혁신

  • 패널 수준에서 테스트를 위한 병렬 리소스
  • 전류 측정(1uA ~ 1A)
  • ProMik 부트로더를 사용하여 어플리케이션의 MCU에서 테스트 기능 실행 
  • 돌입 전류 제어
  • 전압 측정
  • 필드버스 통신 BroadR-Reach, CAN FD, 단일 와이어 CAN, FlexRay, LIN 테스트

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