Pruebas con pocos o ningunos puntos de prueba

SMART ICT

Las pruebas clásicas alcanzan sus límites debido a la falta de puntos de prueba - SMART ICT de ProMik resuelve este problema.
Las funciones de prueba se ejecutan directamente en la aplicación, con un esfuerzo de prueba mínimo en el microcontrolador/SoC.
Las tasas de transferencia de alta velocidad aceleran la programación y las pruebas, incluso con boundary scan.
El resultado: máxima eficiencia, costes reducidos.

Más información

Innovación más rentable en los procedimientos de prueba

  • Recursos paralelos para pruebas a nivel de panel
  • Medición de corriente (de 1uA a 1A)
  • Ejecución de funciones de prueba en la MCU de la aplicación, mediante un ProMik Bootloader
  • Control de la corriente de irrupción
  • Mediciones de voltaje
  • Pruebas de comunicación de bus de campo BroadR-Reach, CAN FD, Single Wire CAN, FlexRay, LIN

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