使用少量或無測試點進行測試

SMART ICT

傳統的測試因缺乏測試點而達到極限 - ProMik 的 SMART ICT 可解決這個問題。
測試功能直接在應用程式上執行,微控制器/SoC 的測試工作量極小。
高速傳輸率加快了編程和測試的速度,即使是邊界掃描也不例外。
結果:最高效率、降低成本。

更多資訊

最具成本效益的測試程序創

  • 面板層級測試的平行資源
  • 電流量測 (從 1uA 到 1A)
  • 使用 ProMik 開機載入程式,在應用的 MCU 上執行測試功能 
  • 控制浪湧電流
  • 電壓量測
  • 測試現場總線通訊 BroadR-Reach、CAN FD、Single Wire CAN、FlexRay、LIN

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  • SMART ICT 인터커넥트 및 인프라 테스트

    PCB를 병렬로 테스트할 수 있도록 합니다.

    27.01.2022

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