Testen mit wenigen oder keinen Testpunkten

SMART ICT

Klassische Tests stoßen durch fehlende Testpunkte an Grenzen – SMART ICT von ProMik löst dieses Problem.
Testfunktionen laufen direkt auf der Applikation, mit minimalem Testaufwand am Mikrocontroller/SoC.
High-Speed-Übertragungsraten beschleunigen Programmierung und Tests, sogar bei Boundary-Scan.
Das Ergebnis: maximale Effizienz, reduzierte Kosten.

Kostengünstigste Innovation der Testverfahren

Parallele Ressourcen für das Testen auf Panelebene
Strommessung (von 1uA bis 1A)
Ausführung der Testfunktionen auf MCU der Applikation, mithilfe eines ProMik Bootloaders
Steuerung des Einschaltstroms
Spannungsmessungen
Test der Feldbus-Kommunikation BroadR-Reach, CAN FD, Single Wire CAN, FlexRay, LIN

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