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电子元件和组件在提高性能的同时，仍然保持着不断小型化的趋势。为了节省空间并避免高速总线上的干扰，应用中的测试点数量正在不断减少。
由于缺少测试点，传统的电路内测试和功能测试在当前可能已经无法充分进行。ProMik 的创新 SMART ICT 技术正是为了解决这一问题。 SMART ICT 测试功能直接在应用程序上执行。因此，所需的测试点仅限于中央微控制器/SoC。 未来，您不仅在编程时能受益于高速传输速率，在测试过程中也能享受这一优势。即使在边界扫描测试范围内， SMART ICT 也能实现时钟周期的节省。特别是在测试覆盖、测试设备和测试开发方面，将带来巨大的（成本）节省潜力。
SMART ICT 使得可以通过微控制器及其编程和调试接口直接实现特定的测试功能。特别是对于小型组件，例如测试点不足的关键应用，这具有很大优势。
Smart-ICT_Konfigurations-Modul_Fuse-Charge-Pump
用于配置/熔断特定系统基础芯片的模块。
Smart-ICT_Modul-Signalleitungen_Galvanic-Isolation-Module
用于切换和断开闪存和ICT信号线。完全隔离未使用的信号线，以确保最高的信号完整性。
Smart-ICT_Vervielfachung-LIN-Signale_Lin-Multiplexer
用于LIN信号的倍增模块。
Smart-ICT_4-Kanal-Modul_PCCS
4通道模块，用于并行电源供应以及电压和电流测量。
Smart-ICT_Zusatzhardware_Power-Sequence-Box
用于应用特定开机序列的附加硬件。
您也希望通过缩短周期时间、提高测试覆盖率和显著节省成本，提升生产效率吗?
立即联系我们，获取有关 SMART ICT 的技术背景和具体应用实例的详细信息。
PCB를 병렬로 테스트할 수 있도록 합니다.
SMART ICT 工具箱：ProMik 的创新带来无限可能
SMART ICT 在电子制造中树立了新的标准。我们不断发展我们的解决方案。通过与客户的紧密合作，我们能够早期识别潜力。 不断增长的创新技术和解决方案的产品组合正是这一成果的体现。
根据当前需求，我们为您提供了广泛的创新 SMART ICT 模块组合。这些模块能够实现包括复杂的电压序列、 精确的微安级电流测量以及现场总线的测试等功能
尽管全球面临特殊情况，ProMik 始终致力于开发新创新。SMART ICT 是我们最新的测试解决方案，适用于没有测试垫或仅有有限测试垫的应用。
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Balluff GmbH / BCS Automotive Interface Solutions / Bosch / Brose Fahrzeugteile GmbH & Co. KG / Continental / Freetech Intelligent Systems / Helbako / Hyundai MOBIS / Jabil Circuit, Inc. / Kimball Electronics / Kostal Automobil Elektrik / Küster Automotive / Kyungshin Corporation / Lear / LG Innotek / Magneti Marelli / Mando Hella / Marquardt / Mekra Lang / Melecs EWS / PIA Automation / Preh / Preh Joyson Automotive / S&T Motiv Electronics / SL Corporation / TRW Automotive / Valeo / Veoneer / Visteon / Yura Corporation / ZF Group / Zollner Elektronik AG
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自1995年成立以来，我们为客户提供了全面的硬件和软件解决方案，专门用于嵌入式闪存的编程。凭借现代化和创新的解决方案，我们在电子制造中树立了新的标准。从产品开发的移动解决方案到高产量的在线生产自动化系统，我们为每位客户提供了合适的解决方案。
