Concepto
La tendencia hacia la miniaturización, junto con el aumento del rendimiento de los componentes electrónicos y los módulos, sigue siendo imparable. Para ahorrar espacio y evitar interferencias en los buses de alta velocidad, el número de puntos de prueba en la aplicación se minimiza cada vez más.
Las pruebas clásicas en circuito y las pruebas funcionales posiblemente ya no sean suficientes debido a la falta de puntos de prueba. Aquí es donde entra en juego la innovadora tecnología SMART ICT de ProMik. Las funciones de prueba SMART ICT se ejecutan directamente en la aplicación. Los puntos de prueba necesarios se limitan así al microcontrolador / SoC central. Las altas tasas de transmisión de datos ya no solo benefician la programación, sino también las pruebas. Incluso en los casos de pruebas con Boundary Scan, SMART ICT permite ahorros en los tiempos de reloj. Se generan enormes potenciales de ahorro (de costos), especialmente en términos de cobertura de prueba, equipos y desarrollo.
