ProMik 测试 –
减少测试点，
提高测试覆盖率，
并执行功能测试"

ProMik SMART ICT 优势

节省成本的潜力

解释

电子元件和组件在提升性能的同时不断朝着小型化发展，这一趋势仍未减弱。为了节省空间并避免高速总线上的干扰，应用中的测试点数量正在不断减少。

由于缺乏足够的测试点，传统的电路内测试和功能测试在当前可能已经无法充分进行。ProMik 的创新 SMART ICT 技术正是为了解决这一问题。
SMART ICT 测试功能直接在应用程序上执行。因此，所需的测试点仅限于中央微控制器/SoC。未来，您不仅在编程时能受益于高速传输速率，在测试过程中也将受益于这一优势。
即使在边界扫描测试中，SMART ICT 也能节省时钟周期。特别是在测试覆盖、测试设备和测试开发方面，将带来巨大的（成本）节省潜力。"

ProMik SMART ICT 

SMART ICT 工具箱：ProMik 的创新带来无限可能

SMART ICT 在电子制造中树立了新的标准。我们不断发展我们的解决方案。通过与客户的紧密合作，我们能早期识别潜力。
不断增长的创新技术和解决方案的产品组合正是这一成果的体现。

根据当前需求，我们为您提供了广泛的创新 SMART ICT 模块组合。这些模块能够实现包括复杂的电压序列、
精确的微安级电流测量以及现场总线的测试等功能.