Pruebas ProMik –
Reducción de puntos de prueba,
aumento de la cobertura de prueba,
y realización de pruebas funcionales

ProMik SMART ICT Ventajes

Potenciales de ahorro de costos

Explicación

La tendencia hacia la miniaturización, junto con el aumento del rendimiento de los componentes electrónicos y los módulos, sigue siendo imparable.
Para ahorrar espacio y evitar interferencias en los buses de alta velocidad, el número de puntos de prueba en la aplicación se minimiza cada vez más.

Las pruebas clásicas en circuito y las pruebas funcionales posiblemente ya no sean suficientes debido a la falta de puntos de prueba.
Aquí es donde entra en juego la innovadora tecnología SMART ICT de ProMik. Las funciones de prueba SMART ICT se ejecutan
directamente en la aplicación. Los puntos de prueba necesarios se limitan así al microcontrolador / SoC central. Las altas tasas de transmisión
de datos ya no solo benefician la programación, sino también las pruebas. Incluso en los casos de pruebas con Boundary Scan, SMART ICT
permite ahorros en los tiempos de reloj. Se generan enormes potenciales de ahorro (de costos), especialmente en términos de cobertura de prueba,
equipos y desarrollo.

ProMik SMART ICT 

SMART ICT Toolbox: Innovaciones de ProMik para posibilidades ilimitadas

SMART ICT establece nuevos estándares en la fabricación de electrónica. Nuestras soluciones las desarrollamos de manera continua.
Detectamos potenciales de manera temprana gracias a nuestra cercanía con el cliente. Un portafolio en crecimiento de tecnologías y
soluciones innovadoras es el resultado.

De acuerdo con los requisitos actuales, le ofrecemos una amplia gama de módulos SMART ICT innovadores. Estos permiten,
entre otras cosas, secuencias de voltaje complejas, mediciones de corriente precisas en el rango de µA, así como la prueba de los buses de campo.