ProMik Testing –
Reduzieren der Testpunkte, 
Erhöhung der Testabdeckung,
& Durchführung der Funktionstests 

ProMik SMART ICT Vorteile

Kosteneinsparpotenziale

Erklärung

Der Trend zur Miniaturisierung bei gleichzeitiger Leistungssteigerung elektronischer Bauteile und Baugruppen ist
nach wie vor ungebrochen. Um Bauraum einzusparen und Störungen an High-Speed-Bussen zu vermeiden, wird
die Anzahl an Testpunkten auf der Applikation zunehmed minimiert.

Klassische In-Circuit- und Funktionstests sind aufgrund fehlender Testpunkte womöglich schon heute nicht in ausreichendem
Umfang möglich. Hier knüpft ProMiks innovative SMART ICT Technologie an.SMART ICT Testfunktionen werden direkt auf 
der Applikation ausgeführt. Benötigte Testpunkte beschränken sich somit auf den zentralen Mikrocontroller/ SoC. Von
High-Speed-Übertragungsraten profitieren Sie künftig nicht nur bei der Programmierung, sondern auch beim Testen.
Selbst bei Boundary-Scan-Testumfängen sind mithilfe von SMART ICT Taktzeiteinsparungen möglich. Enorme
(Kosten-) Einsparungspotenziale ergeben sich unter anderem in Hinblick auf Testabdeckung, -ausrüstung, und -entwicklung.

ProMik SMART ICT 

SMART ICT Toolbox: ProMik Innovationen für unbegrenzte Möglichkeiten

SMART ICT setzt neue Maßstäbe in der Elektronikfertigung. Unsere Lösungen entwickeln wir kontinuierlich weiter.
Potentiale erkennen wir durch unsere Kundennähe frühzeitig. Ein wachsendes Portfolio innovativer Technologien
und Lösungen sind das Ergebnis. 

Aktuellen Anforderungen entsprechend, bieten wir Ihnen ein breites Portfolio innovativer SMART ICT Module. Diese ermöglichen
unter anderem komplexe Spannungssequenzen, präzise Strommessungen im µA-Bereich sowie die Prüfung der Feldbusse.