09. November 2020

Infineon Aurix Device Driver unterstützt SMART ICT Testfunktionen!

Bibliotheken für In-System-Programmierung, Boundary Scan, Peripherie Test & Funktionale Tests.

25 Jahre Erfahrung auf dem Gebiet der Flash-Programmierung ermöglicht uns innovative Technologien zu identifizieren und zu entwickeln. Daher freuen wir uns, Ihnen mitteilen zu können, dass wir SMART ICT Testfunktionen erfolgreich in alle verfügbaren Infineon AURIX MCUs implementiert haben. Mit unserem besonderen Wissen über die AURIX Architektur und mit unserer robusten Software können wir die Geräte mit langer Kabellänge in hoher Geschwindigkeit an den physikalischen Grenzen des Bauteils programmieren.

Infineon AURIXTM TricoreTM 
unterstützt SMART ICT
Testfunktionen

  • High Speed Programmierung
  • High Speed Boundary Scan
  • Bootloader Entwicklung für AURIX Architektur
  • Bibliothek für das Testen der Peripherien 

 

  • Auslesen von ADC Pins
  • Lesen/schreiben/umschalten von GPIOs
  • Automatisiertes schreiben von dynamischen Daten oder übeschreiben von UCB Registern
  • Flashen des HSMs von Infineon, Data Flashs and Program Flashs
  • Besonderer Handhabung bei der Programmierung von 5V und 3V Geräten

Tabelle 1: Unsere Programmierzeiten für eine Untergruppe von unterstützten Geräten

Außerdem können Sie mit unserem neuen Gerätetreiber spezielle Funktionen ausführen, die Ihnen die Möglichkeit geben, Geräte ohne Testpad-Zugang zu testen sowie dedizierte Funktionstests durchzuführen. Darüber hinaus sind wir stolz darauf, Ihnen mitteilen zu können, dass Sie mit der SMART ICT Technologie von ProMik alle Boundary Scan Funktionen bei höchster JTAG-Frequenz mit Kabellängen von bis zu 1,5m zwischen Target und Programmer abdecken.
 

  • High Speed Boundary Scan (Interconnect & Infrastruktur Test)
  • MCU Testfunktionen (Oscillator Frequenz, built in self-test)
  • Applikations spezifische Einschaltsequenzen
  • Spannungs- und Strommessungen measurement (Einschalt- & Ruhestrom)
  • Peripherie Geräte- und Komponententest
  • Direket und Indirekte Tests von Glue Logic Elementen
  • Test der Feldbusschnittstellen und -kommunikation
  • Direkte und indirekte Funktionstests
  • Test von Aktuatoren

Exemplarischer Use Case: Steigern Sie ihre Testabdeckung mit SMART ICT

Vorteile:

  • 1.5 MB/s (1.2MB/s) für die On-Board Programmierung in der Produktion
  • Paralleles Flashen und Testen in nur einem Prozessschritt
  • Erhöte Testabdeckung
  • Geringere Produktionskosten
  • Früherkennung von defekten Bauteilen
  • Hardware Tool muss nicht ins Fixture integriert werden

Quick Links

Südwestpark 100
90449 Nürnberg
Deutschland

Telefon: +49 (0) 911 25 26 65-0

Mail: infopromikcom