25 Jahre Erfahrung auf dem Gebiet der Flash-Programmierung ermöglicht uns innovative Technologien zu identifizieren und zu entwickeln. Daher freuen wir uns, Ihnen mitteilen zu können, dass wir SMART ICT Testfunktionen erfolgreich in alle verfügbaren Infineon AURIX MCUs implementiert haben. Mit unserem besonderen Wissen über die AURIX Architektur und mit unserer robusten Software können wir die Geräte mit langer Kabellänge in hoher Geschwindigkeit an den physikalischen Grenzen des Bauteils programmieren.
Tabelle 1: Unsere Programmierzeiten für eine Untergruppe von unterstützten Geräten
Außerdem können Sie mit unserem neuen Gerätetreiber spezielle Funktionen ausführen, die Ihnen die Möglichkeit geben, Geräte ohne Testpad-Zugang zu testen sowie dedizierte Funktionstests durchzuführen. Darüber hinaus sind wir stolz darauf, Ihnen mitteilen zu können, dass Sie mit der SMART ICT Technologie von ProMik alle Boundary Scan Funktionen bei höchster JTAG-Frequenz mit Kabellängen von bis zu 1,5m zwischen Target und Programmer abdecken.
Exemplarischer Use Case: Steigern Sie ihre Testabdeckung mit SMART ICT
Vorteile: