Innovatives DDR4 RAM Testing
ProMik's einzigartige Technologie SMART ICT realisiert neue Möglichkeiten im Bereich des Testens!
Mit SMART ICT können beispielsweise RAM Speicher mit Hilfe effizientester Bootloader-Technologien in kürzerster Zeit vollumfänglich getestet werden. Mit Hilfe des Speichercontrollers des Prozessors lassen sich Tests mit nominalen Takt und Timing umsetzen, wodurch sich vom Arbeitstakt abhängige Fehler frühzeitig erkennen lassen und sich dadurch zusätzlich die Testzeit verkürzen lässt. Schlechte Lötstellen, Fertigungsfehler auf der Leiterplatte sowie auch defekte Bauteile zur Signalfilterung können dadurch sicher identifiziert werden. Auch die Fehleranalyse und der Benchmarking der Testdaten kann direkt im Prozessor erfolgen, sodass nur die Ergebnisse direkt an die Flash/Test-Station übermittelt werden müssen.