09. März 2021

Ganzheitlich Programmier- und Testlösung für Gateway Anwendungen!

Software Schnittstelle für In-System Programming, SMART ICT, Boundary Scan, Peripheral Test & Functional Test.

Wir erweitern unsere Device Support mit dem NXP S32G. Der Fahrzeugnetzwerkprozessor von NXP kombiniert ASIL D- Saftey, Hardware-Security, hochleistungs Echtzeit- und Anwendungsverarbeitung sowie Netzwerkbeschleunigung für serviceorientierte Gateways, Domain-Controller und Sicherheits-Coprozessoren. Der vielseitige S32G-Prozessor bietet verbesserte Leistung und Vernetzung und ermöglich somit die nächste Generation von Fahrzeug-Gateways und -Architekturen.

NXP S32G
für komplexe
Gateway Anwendungen

  • High Speed Programmierung
  • High Speed Boundary Scan
  • Kundenspezifische Bootloader
  • Bibliothek für das Testen der Peripherien 
  • Cyber Security Konzept für die Produktion

 

  • Auslesen von ADC Pins
  • Lesen/schreiben/umschalten von GPIOs
  • Automatisiertes schreiben von dynamischen Daten
  • Programmierung angehängter Speicher mit ProMik Bootloader Technologien
  • Programmierung angehängter Speicher via Test Pads

Exemplarischer Use Case: Flash Programmierstrategie

Mit unserem neuen Gerätetreiber können Sie zudem spezielle Testfunktion direkt auf der Flashstation ausführen. Sparen Sie sich dadurch einen Zusatzinvest in Hardware und nutzen Sie unsere Multi Standard Programmer Familie für zusätzliche Funktionen aus dem Bereich des Testens. Profitieren Sie künftig von High Speed Übertragungsraten nicht nur bei der Programmierung, sondern auch beim Testen. Selbst bei Boundary Scan Testumfängen sind mithilfe von SMART ICT Taktzeiteinsparungen möglich.
 

  • High Speed Boundary Scan (Interconnect & Infrastruktur Test)
  • Interconnect Test zwischen IC's ohne Boundary Scan 
  • MCU Testfunktionen
  • Realisierung Applikations spezifischer Einschaltsequenzen
  • Spannungs- und Strommessungen (Einschalt- & Ruhestrom)
  • Peripherie Geräte- und Komponententest
  • Direket und Indirekte Tests von Glue Logic Elementen
  • Test der Feldbusschnittstellen und -kommunikation
  • Direkte und indirekte Funktionstests
  • Test von Aktuatoren und Sensoren
  • Speichertests (eMMC, Flash, RAM auch PCIe oder DDR4 möglich)
  • Durchführung von Stresstests

Exemplarischer Use Case: SMART ICT Teststrategie

Vorteile:

  • Bis zu 70 MB/s für eMMC High Speed Programmierung via Test Pad
  • High Speed On-Board Programmierung in der Produktion via Bootloader   
  • Bis zu 10 MB/s für den Daten Download in den eMMC via BroadR-Reach (IEEE100 Base-T1)      
  • Komplett verschlüsselter Prozess
  • Paralleles Flashen und Testen in nur einem Prozessschritt
  • Erhöte Testabdeckung
  • Geringere Produktionskosten
  • Früherkennung von defekten Bauteilen
  • Hardware Tool muss nicht ins Fixture integriert werden

Quick Links

Südwestpark 100
90449 Nürnberg
Deutschland

Telefon: +49 (0) 911 25 26 65-0

Mail: infopromikcom