Debug-Schnittstellen-Überblick
JTAG (Joint-Tes- Action-Group/ IEEE-Standard 1149.1)
JTAG ist die wohl bekannteste Debug-Schnittstelle. Sie verfügt über eine standadisierte Methode für den Zugriff und die Kontrolle von internen Komponenten, wobei sich die Programmiergeschwindigkeiten auf bis zu 100 MHz belaufen. Zu den Key-Features von JTAG zählt unter anderem Boundary-Scan – eine etablierte Testmethode, bei welcher weniger Testpunkte benötigt werden.
mehr lesen
DAP (Debug-Access-Port)
DAP wird bei ARM Mikrocontrollern und Prozessoren verwendet. Genau wie JTAG verfügt diese Debug-Schnittstelle über ein standadisiertes Verfahren für den Zugriff und die Kontrolle der Komponenten. Programmiert wird mit einer Geschwindigkeit von bis zu 80MHz. Die Nachfolgeversion DAP2 verbessert die Geschwindigkeiten auf bis zu 160MHz.
SWD (Serial-Wire-Debug)
Auch SWD wird bei ARM Mikrocontrollern und Prozessoren genutzt. Es ersetzt das traditionelle Programmieren über die 5-Pin JTAG Schnittstelle durch ein zweidrilliges Interface mit Taktgeber (SWDCLK) und einem einzigen bidirektionalen Daten-Pin (SWDIO). Damit bietet SWD alle normalen JTAG-Debug- und Testfunktionen, wobei eine Verkettung von Geräten wie bei JTAG nicht möglich ist.
BDM (Background-Debug-Mode)
Motorola/ Freescale nutzt BDM als Debug-Schnittstelle. Die Besonderheit liegt darin, dass im Hintergrund operiert wird. Das bedeutet, dass das Gerät gedebugged werden kann, während es im normalen Betriebsmodus Code ausführt.
